设备名称 |
主要指标 |
J750超大规模集成电路测试系统 |
100M测试周期 、
256测试通道、
8M向量深度 、
MSO、
32路并行测试 |
V777超大规模集成电路测试系统 |
10M测试周期 、
128测试通道 、
4M向量深度 |
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逻辑分析仪
16802A
Agilent(安捷伦) |
大触摸屏显示器
68通道数
1M 500 MHz State/450 MHz Timing
高速定时缩放4GHz,64K |
数字存储示波器 DS06104A
Agilent(安捷伦) |
1000MHz带宽
4条独立通道
8位垂直分辨率
强大的触发系统
完备的测量系统
菜单模式的自动设置功能 |
码型信号发生器81110A
Agilent(安捷伦) |
频率范围:1mHz~330MHz
可变动延迟:0.00ns~999.5s |
射频信号发生器N9310A
Agilent(安捷伦) |
范围: 9 kHz ~ 3.0 GHz
分辨率: 0.1 Hz
切换速度: <10 ms
功率: -127 至+13 dBm 可设置到+20 dBm
分辨率: 0.1 dB
精度: < ±1 dB |
高低温湿热试验箱ESL-100
ESPSC ( 广爱 ) |
温度范围:-70~+150℃
内部尺寸:1m3
湿度:0~100RH |